Description
Module de test de circuits intégrés tactiles conçu pour la détection précise des défauts de signal tactile sur les cartes logiques de la gamme iPhone 16. Identifie les problèmes au niveau des lignes de communication tactile, des canaux de données et des circuits de commande. Permet de diagnostiquer les problèmes de réponse tactile (tactile non réactif, tactile fantôme et comportement tactile intermittent). Conçu pour une utilisation optimale avec le programmateur et la plateforme de diagnostic JCID V1S Pro. Module robuste et de précision, adapté aux interventions professionnelles quotidiennes sur les cartes électroniques. Idéal pour le dépannage avancé des pannes d’écran et de circuits intégrés tactiles sur la gamme iPhone 16.
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