Description
Module de test de circuit intégré tactile conçu pour identifier les défauts de signal tactile sur iPhone 12 mini et 12 Pro Max. Permet la détection rapide des anomalies des données tactiles, de la communication et de la ligne de commande. Évalue avec précision la fonctionnalité du circuit intégré tactile et des circuits associés. Idéal pour diagnostiquer les problèmes de réponse tactile, les réponses tactiles fantômes et les dysfonctionnements intermittents de l’écran. Conçu pour être utilisé avec le programmateur et le système de test JCID V1S Pro. Module robuste adapté aux flux de travail professionnels de réparation de cartes électroniques.
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